Estudio comparativo de técnicas espaciales para la identificación de defectos en textiles

Autores/as

  • José Armando Fernández Gallego Universidad Antonio Nariño
  • José David Alvarado Moreno Universidad Antonio Nariño

DOI:

https://doi.org/10.15332/iteckne.v7i1.2712

Palabras clave:

Textura, Procesamiento de imágenes, Redes neuronales, Patrones locales binarios, Energía de Laws, Matriz de co-ocurrencia

Resumen

En este artículo se utilizan técnicas de procesamiento de imágenes para la detección de defectos en textiles en el sector industrial. Se evalúa el desempeño de tres técnicas espaciales con descriptores estadísticos para la extracción de características que son finalmente clasificados mediante una red neuronal. Para el desarrollo del proyecto se utilizó la base de datos texUAN del grupo de investigación GEPRO de la universidad Antonio Nariño.

Descargas

Los datos de descargas todavía no están disponibles.

Biografía del autor/a

José Armando Fernández Gallego, Universidad Antonio Nariño

MSc. Automatización Industrial, Ingeniero Electrónico, Universidad Nacional. Coordinador Investigación Facultad de Ingeniería Investigación en Percepción y Robótica GEPRO, Universidad Antonio Nariño, sede Ibagué

José David Alvarado Moreno, Universidad Antonio Nariño

Ingeniero Electrónico Universidad de Cundinamarca. Docente de la Facultad de Ingeniería, Investigador del grupo Percepción y Robótica GEPRO, Universidad Antonio Nariño, sede Ibagué

Citas

[1] Julsing B. K., Face Recognition With Local Binary Pattern. Department Of Electrical Ingineering, Mathematics & Computer Science (EEMCS). University Of Twente. The Netherlands, 2007

[2] Laws K., “Textured Image segmentation,” Ph.D. Dissertation, University of Southern California, January, 1980

[3] Zucker, S.W. , Terzopoulos. Finding structure in coocurrence matrices for texture analysis. Computer Graphics and Image Proc. Vol 2:286-308, 1980

[4] Haralick R. M., Textural Features for Image Classification. IEEE Transaction on System, Man, and Cybernetics. Vol. 3, pages 610-621, 1973

[5] Clausi D.A., Jernigan M.E., A Fast Method to Determine Co-occurrence Textura Features. IEEE Transaction on Geoscience and Remote Sensing. Vol. 3, pages 610-621, 197

[6] Davies E.R, Machine Vision Theory, Algorithms, Practicalities, El Sevier, 3 edition, 2005

[7] Alvarado J, Fernández J, Análisis de textura en imágenes a escala de grises, utilizando patrones locales binarios (LBP), Memorias XV Simposio De Tratamiento De Señales, Imágenes Y Visión Artificial - STSIVA, Pag 95-100, 2010

[8] Pietikainem M., Image Analysis with Pattern Local Binary. Image Analysis, SCIA 2005 Proceedings, Lecture Notes in Computer Science 3540, Springer, pages 115-118. 2005

[9] Maenpaa T., M. et.al, “Robust Texture Classification by Subsets of Local Binary Patterns”, Proceedings of the 15th International Conference on Pattern Recognition, 2000, Vol. 3, 3-7, Pages 939-942

[10] Harwood D, Ojala T, Pietikäinen M, Kelman S & Davis S, Texture classification by center-symmetric auto-correlation, using Kullback discrimination of distributions. Technical report, Computer Vision Laboratory, Center for Automation Research, University of Maryland, College Park, Maryland. CAR-TR-678, 1993

Descargas

Publicado

2013-11-19

Cómo citar

Fernández Gallego, J. A., & Alvarado Moreno, J. D. (2013). Estudio comparativo de técnicas espaciales para la identificación de defectos en textiles. ITECKNE, 7(1), 75–82. https://doi.org/10.15332/iteckne.v7i1.2712

Número

Sección

Artículos de Investigación e Innovación