Síntesis y caracterización de películas delgadas de Tio2 dopadas con cobre para ser usadas en fotocatálisis
DOI:
https://doi.org/10.15332/iteckne.v10i1.188Palabras clave:
Keywords— TiO2, Photocatalysis, metal doping, X-Ray, Diffuse Reflectance.Resumen
En este trabajo estudiamos la influencia de la incorporación de cobre en películas delgadas de TiO2 sobre las propiedades estructurales, ópticas y superficiales de las películas delgadas de TiO2. El TiO2 a medida que crecía se sintetizó mediante el método de sol-gel utilizando isopropóxido de titanio, y las películas delgadas de TiO2 se depositaron mediante el método de recubrimiento por rotación. El TiO2 dopado con cobre (Cu:TiO2) se sintetizó mediante el método de impregnación utilizando Cu(NO3).H2O como fuente de Cu(II), las películas delgadas de Cu:TiO2 se depositaron mediante el método de recubrimiento por rotación. Las propiedades de los compuestos obtenidos se evaluaron mediante medidas de difracción de rayos X (XRD) y reflectancia difusa. Los resultados de XRD mostraron que el dopaje con Cu cambia el radio de fase cristalina de las películas, el patrón XRD de TiO2 indicó que las películas crecen con estructura de anatasa, mientras que las películas delgadas de Cu:TiO2 presentaron una mezcla policristalina de anatasa/rutilo. El análisis de reflectancia indicó que el TiO2 presenta una banda prohibida de energía de 3,25 eV y el Cu:TiO2 presenta un corrimiento al rojo de la banda prohibida a 2,9 eV. Los resultados sugieren que el dopaje con cobre mejoró la recolección del TiO2 a la radiación visible.
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